J200飛秒激光剝蝕進樣係統為(wei) 準確定量的分析元素和同位素測量樣品相匹配的標準物質用的設備，采用長激光脈衝(chong) 的係統改變剝蝕樣品的數量和化學成分，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，具備智能輸送和補充氣控製功能，使每種氣體(ti) 按預定的方式達到設定值，同步開關(guan) 確保穩定的ICP-MS等離子體(ti) 狀態，防止等離子體(ti) 火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為(wei) 載氣或緩衝(chong) 氣，功能直觀、帶圖形界麵，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。

基本參數：
1、供電要求：110-240VAC,50/60Hz；
2、重量：272Kg；
3、產(chan) 品尺寸：1780X660X760mm；
4、自動X-Y軸：100mmX100mm行程範圍，分辨率0.2微米；
5、激光脈衝(chong) 能量：343nm-1030nm；
6、樣品成像光源： 泛光LED燈。

設備特點：
1、係統還可以對植物葉片進行深度的分析；
2、可編製成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化；
3、用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式；
4、自動高度調節傳(chuan) 感器、樣品室等部件的工作狀態；
5、用戶可將多個(ge) 硬件部件運行命令集合，並按時間順序排列；
6、易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式；
7、連續可調光學衰減器，集成激光能量監測單元。

J200飛秒激光剝蝕進樣係統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編製的模式， 長激光脈衝(chong) 係統產(chan) 生的樣品顆粒大（常大於(yu) 數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，並且降低了分析的靈敏度，用戶可*依靠J200係統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS係統，用戶簡單、方便地操作硬件部件。隻需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流係統、光模塊、3-D操作台、自動高度調節傳(chuan) 感器、樣品室等部件的工作狀態。